测试向量自动生成工具

       集成电路的测试是整个集成电路设计和生产过程中不可或缺的核心环节。高品质低成本的测试是保证芯片质量的关键，也是获得商业成功的重要保障，而高效的测试向量自动生成工具（ATPG）是获得最优测试的必要保证。商用级测试向量自动生成工具 UniVista Tespert ATPG，集成了优化的库单元提取工具，高效的并行多线程引擎，直观易用的图形界面，同时支持基于硬件的高效测试向量压缩技术，能够为各种类型的芯片提供优质高效的测试方案。

产品特点：

• 优化的ATPG库单元的自动提取和校验：

○ 基于Liberty文件的ATPG单元库的自动提取； 

○ 利用Verilog Simulator进行ATPG库的自动校验；

• 高效的测试向量自动生成

○ 完善的设计规则检查（DRC）；

○ 高效的并行多线程引擎； 

○ 深度优化的测试向量生成引擎；

○ 支持多种错误类型，包含stuck-at fault和transition fault；

○ 支持常用格式的测试向量输出，包含Verilog，STIL，和WGL；

• 基于硬件的高效测试向量压缩技术

○ 支持高压缩比的压缩电路的自动生成； 

○ 针对压缩电路的完善的设计规则检查（DRC）； 

○ 优质高效的压缩测试向量生成； 

• 直观易用的图形界面

○ 和UniVista Debugger的无缝融合； 

○ 支持对于网表的各种查看，追踪，和交叉探测； 

○ 支持ATPG相关的各种调试，包含 DRC，仿真结果，错误覆盖率； 

○ 支持通过波形对于 setup procedure 进行高效调试；

ATPG流程图

ATPG图形调试界面