全功能高效能数字验证调试平台
随着SoC芯片设计复杂度持续攀升，调试工作已成为数字验证流程中的关键瓶颈。合见工软推出的UniVista Debugger Plus (UVD+) 作为新一代全功能调试平台，基于全自研创新架构构建，通过高性能波形引擎、智能源码追踪与高效原理图分析等核心组件，实现数字验证调试全场景的无缝覆盖，为芯片上市周期加速提供关键支撑。
UVD+深度集成高压缩比波形数据库 (USDB) 技术，支持合见工软及第三方验证工具链协同工作。其直观的可视化界面与智能交互设计，显著提升调试效率；同时拓展支持数模混合调试、低功耗验证、事务级协议分析及覆盖率深度分析等高阶场景，为芯片功能的正确性与可靠性提供全维度保障，成为工程师实现验证闭环的终极解决方案。
产品特点：
- 全面的设计 (DUT) 与测试台 (Testbench) 调试：
○ 支持仿真动态交互式调试与仿真后调试功能；
○ 支持SystemVerilog/UVM的Class functions/variables call-stack；
○ 支持RTL和门级仿真调试；
○ 支持低功耗UPF（EEE Std 1801-2013, UPF2.1）的仿真调试与分析；
○ 开放性接口支持第三方验证引擎产生USDB波形；
○ 原生支持合见工软自研全套工具链；
UniVista Simulator（UVS）；
UniVista Advanced Prototyping System（UV APS）；
UniVista Unified Verification Hardware System（UVHS）；
UniVista Hyperscale Emulator（UVHP）；
UniVista Tespert；
UniVista Equivalence Checker（UV EC）；
- 强大的源代码视图和导航：
○ 设计结构查看；
○ 信号快速查找；
○ 信号值查看；
○ 信号值反标；
○ 代码浏览历史记录；
○ 快速查看模块实例的定义和调用；
○ 语法高亮；
- 智能源代码追踪：
○ 信号静态加载和驱动的追踪；
○ 基于Active Trace的源头分析；
○ Trace窗口显示追踪链结果；
○ 智能X-Insight功能支持X态追踪；
- 高效的波形调试
○ 高压缩比和高效的波形读写；
○ 快捷方式轻松添加信号；
○ 方便快速的波形放大/缩小；
○ 记录波形缩放历史；
○ 支持光标和标记；
○ 同步源代码和信号视图；
- 强大的查询功能
○ 事件统计；
○ 多波形文件加载；
○ 波形比较；
○ 波形分组；
○ 自定义的总线和表达式运算；
○ 支持查看Force/Release；
○ 支持Delta Cycle和Glitch；
- 原理图视图
○ 范围/平铺/浏览/缩略视图；
○ 加载/驱动/连接的追踪；
○ 支持扇入/扇出查看；
○ 信号值的反标；
○ 与源代码窗口和波形窗口的同步；
- 覆盖率查看
○ 覆盖率的统计和报表
○ 覆盖率信息在源代码窗口的标注
○ 可覆盖目标的详细分析
○ 覆盖率的调试
- UVM Testbench/Tests Debug：
○ 全栈架构可视化：
覆盖测试用例（Sequence）/ 组件（Component）/ 调用树（Call Hierarchy）/ 重载路径（Override）的全局透视；
○ 支持各类 UVM Transaction debug；
○ UVS交互式debug，支持动态对象调试：
动态追踪各类object
实时监测Sequence/Phase/Register 关键资源流
○ 深度诊断透视：
穿透分析对象状态、继承关系与执行历史
○ 跨维度一体调试：
日志过滤+波形联动+配置热修改高效闭环
- UPF debug
○ 多窗口协同联动可视化分析：Power activities影响实时映射波形/RTL代码 /UPF代码/电路图；
○ 多窗协同联动查找/过滤/追踪功能，精准定位低功耗设计缺陷；
○ 功耗状态透视：Power State Table解析电源域行为；
- 双版本对比调试（Twins debug）
○ 同步加载新旧USDB版本，智能比对差异，高效定位设计问题；
- 开放接口支持用户自定义 Debug App
○ 可定制工具链，自动化抽取设计数据；
○ 覆盖设计/低功耗/信号追踪等各类场景；
- UVD 人体工程学 GUI 界面
○ 亮色模式：高对比度显示，确保代码与信号清晰辨识；
○ 暗色模式：低亮度护眼方案，缓解长时间调试的视觉疲劳；
亮色模式
暗色模式
