Virtuoso Variety Statistical Characterization Solution
主要优点
-
创建考虑系统性工艺变化和随机工艺变化的变化感知时序模型
-
包括用于对本地和全局变化建模的工具库
-
可用于SSTA或常规静态时序分析
-
Cadence® Virtuoso® Variety 统计特性提取解决方案提供了对工艺漂移感知时序模型的超快速标准单元特性提取。 Variety解决方案生成可以与多个SSTA一起使用的库，无需为每个格式重新提取。 Variety解决方案还生成AOCV和SOCV表以及LVF。
功能特性
- 创建考虑了系统性工艺变化（例如，由于光刻引起的变化）和针对任何相关或不相关的工艺参数集的随机工艺变化（例如，由于晶体管之间的掺杂波动引起的变化）的变化感知时序模型，
- 工具库可用于模拟局部（单元内和芯片内）变化和全局的芯片与管芯片的变化
- 使用片上变化表实现SSTA或常规静态时序分析，以提供更为接近实际芯片性能的时序估算，通常这样可将最坏情况的时序裕度降低10-15％，从而产生有更高合格率的设计，而且能更快地 tape-out
